<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">ipolytech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">iPolytech Journal</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>iPolytech Journal</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">2782-4004</issn><issn pub-type="epub">2782-6341</issn><publisher><publisher-name>Irkutsk National Research Technical University</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.21285/1814-3520-2019-6-1187-1202</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">ipolytech-350</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭНЕРГЕТИКА</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>POWER ENGINEERING</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Назначение шунтирующих диодов солнечной панели и методы их диагностики</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Bypass diode function in solar panels and their diagnostic methods</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Швец</surname><given-names>С. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Shvets</surname><given-names>S. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">swsh@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Байшев</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Baishev</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">anatoly_bayshev@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Хакасский государственный университет им. Н.Ф. Катанова</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Khakass State University named after N.F. Katanov</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2019</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>15</day><month>09</month><year>2020</year></pub-date><volume>23</volume><issue>6</issue><fpage>1187</fpage><lpage>1202</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Швец С.В., Байшев А.В., 2020</copyright-statement><copyright-year>2020</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Швец С.В., Байшев А.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Shvets S.V., Baishev A.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://ipolytech.elpub.ru/jour/article/view/350">https://ipolytech.elpub.ru/jour/article/view/350</self-uri><abstract><p>Цель - обозначить важность проведения мероприятий по диагностике и поддержанию в исправном состоянии шунтирующих диодов в составе солнечной панели. Исследование проведено с использованием теоретического анализа информационных данных о шунтирующих диодах и их диагностике. Рассмотрены дефекты солнечной панели, возникающие по причине неисправных шунтирующих диодов. Использовано компьютерное моделирование в программе PVSYST, проведена имитация неисправностей шунтирующих диодов на солнечной панели YL-250P-29b и их диагностика методами анализа тока короткого замыкания при частичном затенении и параметра напряжения холостого хода в нормальных условиях. Установлено, что методы тепловизионной диагностики (в том числе с использованием беспилотника) и визуальная инспекция не являются точными инструментами поиска неисправных шунтирующих диодов. Для малых солнечных электростанций (а также для диагностики шунтирующих диодов солнечных панелей из запасных частей, инструментов, приспособлений на крупных солнечных электростанциях) применимы методы анализа тока короткого замыкания при частичном затенении и параметра напряжения холостого хода в нормальных условиях. Для полной диагностики неисправностей шунтирующих диодов на крупных солнечных электростанциях рекомендован метод тепловизионной диагностики с применением внешнего источника.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The purpose of the paper is to indicate the importance of measures on diagnosis and maintenance of solar panel bypass diodes. The study involves the theoretical analysis of information data on bypass diodes and their troubleshooting. Consideration is given to solar panel defects arising from faulty bypass diodes. The study uses computer simulation in PVSYST program, simulates bypass diode faults on YL-250P-29b solar panel and performs bypass diode diagnostic by the methods of short-circuit current analysis at partial shading and idle voltage parameter under normal conditions. It is determined that the methods of thermal imaging diagnostics (including those using a drone) and visual inspection are not accurate troubleshooting tools for faulty bypass diodes. The analysis methods of short-circuit current at partial shading and the idle voltage parameter under normal conditions are applicable for small solar power plants. They also can be used for the diagnosis of bypass diodes of solar cell arrays assembled from spare parts as well as for tools and devices at large solar power plants. The method of thermal imaging diagnostics using an external source is recommended to use for full fault diagnosis of bypass diode breaks in large solar power plants.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>солнечная электростанция</kwd><kwd>шунтирующие диоды</kwd><kwd>диагностика шунтирующих диодов</kwd><kwd>тепловизионная диагностика</kwd><kwd>электролюминисценция</kwd><kwd>визуальная инспекция</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>solar power plant</kwd><kwd>bypass diodes</kwd><kwd>bypass diode diagnostics</kwd><kwd>thermal imaging diagnostics</kwd><kwd>electroluminescence</kwd><kwd>visual inspection</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
